鎖相熱成像系統的維護保養是保證其長期穩定運行的關鍵。系統的維護包括日常的清潔、部件的檢查和更換等。對于紅外熱像儀的鏡頭，需要定期用專門的清潔劑和鏡頭紙進行清潔，避免灰塵和污漬影響成像質量。鎖相放大器、激光器等關鍵部件要定期進行性能檢查，確保其參數在正常范圍內。如果發現部件出現老化或故障，要及時進行更換，以避免影響系統的檢測精度。此外，系統的冷卻系統也需要定期維護，確保其能夠正常工作，防止因設備過熱而影響性能。做好維護保養工作，能夠延長鎖相熱成像系統的使用壽命，降低設備故障的發生率，保證檢測工作的順利進行。鎖相熱成像系統縮短電激勵檢測的響應時間。高分辨率鎖相紅外熱成像系統emmi

在當今科技飛速發展的時代，電子設備的性能與可靠性至關重要。從微小的芯片到復雜的電路板，任何一個環節出現故障都可能導致整個系統的崩潰。在這樣的背景下，蘇州致晟光電科技有限公司自主研發的實時瞬態鎖相熱分析系統（RTTLIT）應運而生，猶如一顆璀璨的明星，為電子行業的失效分析領域帶來了全新的解決方案。

致晟光電成立于 2024 年，總部位于江蘇蘇州，公司秉持著 “需求為本、科技創新” 的理念，專注于電子產品失效分析儀器設備的研發與制造。 Thermal EMMI鎖相紅外熱成像系統探測器鎖相熱成像系統提升電激勵檢測的抗干擾能力。

這款一體化設備的核心競爭力，在于打破了兩種技術的應用邊界。熱紅外顯微鏡擅長微觀尺度的熱分布成像，能通過高倍率光學系統捕捉芯片表面微米級的溫度差異；鎖相紅外熱成像系統則依托鎖相技術，可從環境噪聲中提取微弱的周期性熱信號，實現納米級缺陷的精細定位。致晟光電通過硬件集成與算法優化，讓兩者形成 “1+1＞2” 的協同效應 —— 既保留熱紅外顯微鏡的微觀觀測能力，又賦予其鎖相技術的微弱信號檢測優勢，無需在兩種設備間切換即可完成從宏觀掃描到微觀定位的全流程分析。

當電子設備中的某個元件發生故障或異常時，常常伴隨局部溫度升高。熱紅外顯微鏡通過高靈敏度的紅外探測器，能夠捕捉到極其微弱的熱輻射信號。這些探測器通常采用量子級聯激光器等先進技術，或其他高性能紅外傳感方案，具備寬溫區、高分辨率的成像能力。通過對熱輻射信號的精細探測與分析，熱紅外顯微鏡能夠將電子設備表面的溫度分布以高對比度的熱圖像形式呈現，直觀展現熱點區域的位置、尺寸及溫度變化趨勢，從而幫助工程師快速鎖定潛在的故障點，實現高效可靠的故障排查。利用鎖相放大器或相關算法，將熱像序列中每個像素的溫度信號與激勵參考信號進行相關運算得到振幅與相位。

在半導體行業飛速發展的現在，芯片集成度不斷提升，器件結構日益復雜，失效分析的難度也隨之大幅增加。傳統檢測設備往往難以兼顧微觀觀測與微弱信號捕捉，導致許多隱性缺陷成為 “漏網之魚”。蘇州致晟光電科技有限公司憑借自主研發實力，將熱紅外顯微鏡與鎖相紅外熱成像系統創造性地集成一體，推出 Thermal EMMI P 熱紅外顯微鏡系列檢測設備（搭載自主研發的 RTTLIT （實時瞬態鎖相紅外系統），為半導體的失效分析提供了全新的技術范式。

快速定位相比其他檢測技術，鎖相熱成像技術能夠在短時間內快速定位熱點，縮短失效分析時間。芯片用鎖相紅外熱成像系統售價

鎖相熱成像系統提升電激勵檢測的缺陷識別率。高分辨率鎖相紅外熱成像系統emmi

致晟光電在推動產學研一體化進程中，積極開展校企合作。公司依托南京理工大學光電技術學院，專注開發基于微弱光電信號分析的產品及應用。雙方聯合攻克技術難題，不斷優化實時瞬態鎖相紅外熱分析系統（RTTLIT），使該系統溫度靈敏度可達0.0001℃，功率檢測限低至1uW，部分功能及參數優于進口設備。此外，致晟光電還與其他高校建立合作關系，搭建起學業-就業貫通式人才孵化平臺。為學生提供涵蓋研發設計、生產實踐、項目管理全鏈條的育人平臺，輸送了大量實踐能力強的專業人才，為企業持續創新注入活力。通過建立科研成果產業孵化綠色通道，高校的前沿科研成果得以快速轉化為實際生產力，實現了高校科研資源與企業市場轉化能力的優勢互補。高分辨率鎖相紅外熱成像系統emmi