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原位XRD如何與其他原位表征技術聯用?

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杭州博測材料科技有限公司2025-08-05

XRD + 光譜技術 (Raman, FTIR, XAS): XRD提供長程有序晶體結構信息(相組成、晶格參數、晶粒尺寸)。拉曼光譜 (Raman) 和紅外光譜 (FTIR) 提供局域化學鍵/分子振動、短程有序和非晶相信息,對鍵合狀態、官能團、局部結構變化敏感。X射線吸收譜 (XAS, 包括XANES和EXAFS) 提供元素特異性的電子結構(氧化態) 和近鄰原子配位環境(鍵長、配位數、無序度) 信息,對非晶、液態、表面物種同樣有效。

杭州博測材料科技有限公司
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簡介:杭州博測材料科技有限公司成立于2024年,專注材料的分析、檢測與研發提供高效的技術服務。
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透氧/透氣/透濕性能測試2
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    杭州博測材料科技有限公司 2025-08-06

    XRD + 散射技術 (SAXS/USAXS): XRD探測晶體相(> 1 nm尺度)。小角/超小角X射線散射 (SAXS/USAXS) 對納米尺度(1-1000 nm)的結構(如孔結構、納米粒子尺寸分布、聚集態、相分離域)極其敏感,即使這些結構是非晶的。聯用可同時研究材料的晶相演化和納米結構演化(如催化劑的燒結過程、電池電極孔隙率變化、高分子材料的相分離)。

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