深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-05-01

欣同達(dá)老煉座支持多芯片測試。針對多芯片測試需求，其設(shè)計了多種解決方案。一方面，有專門的多工位老煉座產(chǎn)品，這種老煉座在結(jié)構(gòu)上集成了多個的芯片測試工位，每個工位都具備完整的電氣連接和信號傳輸功能，可同時對多個相同或不同類型的芯片進(jìn)行測試。例如，在電子產(chǎn)品大規(guī)模生產(chǎn)過程中的芯片批量老化測試環(huán)節(jié)，多工位老煉座可提高測試效率，降低測試成本。另一方面，對于一些需要對特定組合芯片進(jìn)行協(xié)同測試的場景，欣同達(dá)可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制設(shè)計，通過優(yōu)化內(nèi)部電路布局和信號傳輸線路，實現(xiàn)多個芯片之間的同步測試和數(shù)據(jù)交互，滿足客戶復(fù)雜的多芯片測試需求，應(yīng)用于系統(tǒng)級芯片測試、芯片組兼容性測試等領(lǐng)域 。

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