紅外測溫儀或者紅外熱像儀的芯片主要由ADC芯片和控制芯片設計組成，可實現按鍵控制、LCD顯示、電量檢測等功能。紅外測溫儀的工作過程：紅外測溫儀由光學系統、光電探測器、信號放大器及信號處理、顯示輸出等部分組成。光學系統匯集其視場內的目標紅外輻射能量，視場的大小由測溫儀的光學零件以及位置決定。被測物體輻射的紅外首先進入測溫儀的光學系統，再由光學系統匯聚射入的紅外線，使能量更加集中;聚集后的紅外線輸入到光電探測器中，探測器的關鍵部件是紅外線傳感器，黑體爐的任務是把光信號轉化為電信號;從光電探測器輸出的電信號經過放大器和信號處理電路按照儀器內部的算法和目標發射率校正后轉變為被測目標的溫度值。黑體在工業上主要應用于測溫領域，常見的產品是黑體爐。中溫黑體爐維修

BR1450中高溫黑體輻射源/黑體爐溫度范圍寬廣，由100～1450℃內任意一溫度點皆可隨需要調整。穩定、重復的校正面板讓使用者能快速而準確地校正及測試紅外線高溫計(紅外測溫儀)。黑體開孔直徑Φ32mm的面積，適用大部份的紅外線高溫計(紅外測溫儀)。系統另有RS-232或485的計算機通訊接口方便計算機控制設定溫度及自動測試。功能特點：●溫度范圍：100～1450℃●采用自動升溫控溫方式、安全可靠、溫度穩定性好、使用操作方便●使用雙排數字顯示測量值及設定值●緊湊而堅固的設計、集校準與測試的完美結合智能黑體爐口碑好黑體爐的研究不僅對基礎科學研究具有重要意義。

黑體爐的升溫和降溫時間也是黑體的重要特性，這一點雖然不能改變其測試性能，但能夠極大地影響實驗或生產效率。1℃的變化如果需要等待5分鐘，這個時長會造成實驗的拖延或不及時，或生產效率的降低，尤其是在需要不斷改變黑體溫度的情況下。DIAS的CS1500系列黑體，改變10℃以內的溫度需要的溫度穩定時間在60秒以內，無論是升溫或降溫情況下。DIAS的黑體可以在任意時間設置成任意想要的溫度，不受步驟流程的約束，在降溫過程中（低于0℃）。

    研究發現，發射率越高，黑體輻射對環境的敏感度越低，受環境溫度影響越小。黑體爐的優勢之一就是其高發射率，所有的擴展面源黑體的發射率都是，腔式黑體的發射率＞。擴展面源黑體的通過其符合LNE（與NIST同等的法國標準）特定的一種特定涂料來實現高發射率。HGH通過對黑體進行輻射校準來實現黑體在1到14um的整個波長范圍內其等效發射率達到1。通過一個簡單的測試來了解輻射校準的重要性：100℃的條件下，分別在不做輻射校準和做輻射校準的情況下測量黑體（發射率）的溫度（通過紅外溫度計）。不做輻射校準的情況下其表面溫度為98℃，而做過輻射校準后其表面溫度為100℃?？紤]到這種情況，有些人可能認為反射率不如等效反射率那么重要。然而，輻射校準是在實驗環境中計算得出的，實驗環境溫度大概在22-23℃左右，并且是在光譜中的特定波段，其校正結果只在該實驗溫度和波段下有效。因此這種情況下需要嚴格控制工作環境的溫度。 在黑體爐上進行了標定試驗研究，分析了曝光時間、光圈、焦距以及標定距離等參數對CCD灰度測量的影響。

    黑體爐的定義：能全部吸收外部的輻射能量，同時能全部輻射出自身全部能量的物體。概述：黑體的主要技術指標：黑體的發射率，黑體腔口直徑，溫度均勻性和輻射溫度不確定度。因此為了確保黑體的產品質量，通常黑體都是按溫度分段設計。通常我們所說的黑體為人工黑體。人工黑體的發射率接近于1，但不等于1。黑體在工業上主要應用于測溫領域，十分主要的產品是黑體爐。對輻射溫度計的校準、檢定，通常采用比較法，就是通過高穩定度的輻射源（通常為黑體輻射源）和其他配套設備，將標準器所復現的溫度與被檢輻射溫度計所復現的溫度進行比較，以判斷其是否合格或給出校準結果。標準黑體作為標準輻射源，主要用于校準輻射溫度計、紅外溫度計和輻射溫度傳感探測器。我公司目前具有先進的黑體技術，產品種類全、溫度范圍寬的黑體系列產品。 現代黑體爐大多配備先進的溫度傳感器和微處理器控制系統，能夠實現對溫度的高精度、高穩定性的控制。上海高溫黑體爐800 2500度

在使用黑體爐進行實驗前，需要對爐體進行充分的預熱，以確保爐內溫度分布均勻。中溫黑體爐維修

BR400黑體爐，由環溫+10℃～400℃內任意一溫度點皆可隨需要調整。穩定、重復的校正面板讓使用者能快速而準確地校正及測試紅外線高溫計(紅外測溫儀)。黑體開孔直徑Φ125mm的面積，適用大部份的紅外線高溫計(紅外測溫儀)。系統另有RS-232或485的計算機通訊接口方便計算機控制設定溫度及自動測試。功能特點：●溫度范圍：環溫+10℃～400℃●采用自動升溫控溫方式、安全可靠、溫度穩定性好、使用操作方便●使用雙排數字顯示測量值及設定值●緊湊而堅固的設計、集校準與測試的完美結合中溫黑體爐維修