美國D&S公司生產的AE1/RD1輻射率儀是專門針對測量物體的輻射率設計的，具有如下優點：重復性:±0.01操作簡單:探測器采用電加熱設計，無須加熱樣品，也不需要測量溫度。快速測量：預熱約30分鐘，每1.5分鐘測量一次發射率。價格實惠:相較于一些用比較法測量發射率的儀器便宜很多AE1/RD1輻射率儀測量材料的總半球發射率，測量儀*對輻射熱傳輸響應，并且輸出電壓和發射率成線性關系。D&S的標度數字電壓表RD1是AE1輻射率儀讀數器，RD1通過可調旋鈕來設定電壓讀數和發射率標準體的電壓一致，當AE1測量待測樣品上時，RD1就能直接讀出發射率。客戶定制－定制測呈適配器，用來測量圓柱體表面或者其它形狀設計表面。明策科技發射率測量儀工作原理

本系統由美國Devices&Services提供設備，由上海明策電子科技有限公司提供售前售后專業技術服務。Devices&Services公司位于德克薩斯州達拉斯市，自1977年以來一直為材料、太陽能和航空航天工業制造提供先進的熱學和光學儀器。本系統由AE1/RD1輻射率測量儀與SSR-ER太陽光譜反射率測量儀組成。發射率測量儀內部**是一個發熱的黑體，內部的熱電堆傳感器將反射的熱輻射的數據轉換為電壓信號，并按照特定溫度下的普朗克黑體定律給的熱輻射光譜數據進行內部分析處理，從而得出數據反饋給儀器數顯信號進行數據的輸出。太陽光反射率發射率測量儀安裝標準體:隨機提供兩個高發射率標準體和兩個低發射率標準體。其中一套標準體可以用來測量時使用。

把該儀器放在高發射率標準體（黑體）上，設定RD1來表示發射率標準參數；然后儀器就會根據這個標準，計算并直接讀出RD1上該被測目標的發射率。AE1測量樣品**小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件AE-AD1和AE-AD3探測頭能使測量樣品**小直徑為1.0英寸（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。如需定制測量頭。AE1/RD1紅外半球發射率測量儀滿足《JG_T235-2014建筑反射隔熱涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔熱涂料節能檢測標準》中對半球發射率的要求。

為了測量大曲率的圓柱形表面，檢測器感應元件必須與表面的軸對稱定位，以降低由于輕微的未對準而產生的誤差。將適配器連接到AE1測量頭的旋螺釘用于正確對準儀器。同樣用于測量大曲率圓柱表面，提供柔性波紋管以密封圓柱形表面，并防止間歇性空氣流過檢測器表面。客戶可以根據自己的樣品大小選擇合適自己的，當然如果你在選型上有任何問題，可以隨時咨詢上海明策！如果你需要戶外使用的話，還有電源可供選擇使用的。AE1/RD1標配包含：包括輻射率儀、電源線、加熱裝置，兩個高發射率標準體和兩個低發射率標準體，技術手冊及操作指南。把輻射計放在高發射率標準體上，設定RDl來顯示發射率。

    請謹記需要重復循環調節高發射率標準塊(步驟3)和低發射率標準(步驟4)。重復補償兩個調試過程,直到重復兩個標定過程都不需要改變顯示數值時，我們才能說RD1和Emissometer現在測出來的發射率和表頭顯示的數值才是**準確的。進行發射率測量1.將探頭放到高放射率標定塊的位置，然后等RD1顯示的發射率數值穩定下來；并確保RD1在“變量variable”模式下2.把探頭移動到被測樣品上然后等待RD1的顯示數值趨于穩定。此時顯示的數值就是該樣品發射率，不需要進行任何計算3.當測量未知樣品時，一般我們都是采用高發射率標準塊來校驗下RD1，然后再測樣品的發射率；當然設計其他一些特殊樣品，我們有其他的一些對應方法，詳情敬請咨詢我司。 便攜式反射率測定儀常溫下材料半球發射率的測定。半球發射率發射率測量儀服務價格

半球發射率: 熱輻射體在半球方向上的輻射出射度與處于相同溫度的全幅射體(黑體)的輻射出射度之比值。明策科技發射率測量儀工作原理

AE1/RD1可選配件（用于AE1型發射率計）發射率測量儀適配器—型號AE-AD3。AE1和AE-AD3適配器的發射率測量可以在直徑約為1.0英寸（2.54厘米）的平坦區域進行。典型應用包括對材料的小樣品試樣進行測量，并在一個較大的樣本上測量一個小的可用的平面區域。適配器可以在要測量的區域上有效阻隔1英寸高度的垂直障礙物影響。發射率測量儀適配器—型號AE-AD1。AE1和AE-AD1適配器的發射率測量儀可以實現在直徑為1.5英寸（3.8厘米）的平坦區域小目標測量。典型的應用是在太陽能吸收板上的管子進行測量，或者測量小于直徑2.25英寸（5.7cm）的區域。發射率測量儀端口適配器—型號ADP。AE-ADP端口內徑為1.5英寸。該模型用于測量較小的樣品尺寸，具有低導熱性的材料，大曲率圓柱形表面（>2英寸）粗糙或紋理表面。明策科技發射率測量儀工作原理

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