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國磊PCB測試系統工藝

來源: 發布時間:2025-07-29

離子遷移現象是指在某些特定條件下,PCB板上的金屬離子通過絕緣層遷移,形成類似導體的陽極絲,從而導致電路短路或失效。CAF測試(導電陽極絲測試)是一種用于評估印制電路板(PCB)在特定環境條件下,特別是在高溫高濕環境下,抵抗CAF現象(導電陽極絲生長)的能力的測試方法。CAF測試通過模擬這些極端環境,加速CAF現象的發生,從而評估PCB板的可靠性和穩定性。在CAF測試中,通常會在PCB板的正負極之間施加一定的電壓,并在特定的環境條件下(如高溫高濕)進行長時間的老化測試。測試過程中,通過監測PCB板的絕緣電阻變化,可以判斷是否有CAF現象發生。如果絕緣電阻急劇下降,則表明發生了CAF現象,測試系統將記錄詳細數據并觸發報警裝置以實現自動測試。多通道導電陽極絲測試系統精確檢測PCB電路板質量,確保產品可靠性。國磊PCB測試系統工藝

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導電陽極絲是PCB電路板的一種潛在故障形式,其形成和發展受到多種環境因素的明顯影響。以下是對CAF環境影響因素的詳細描述:首先,溫度和濕度是CAF形成的重要環境因素。在高溫高濕的環境下,PCB板上的環氧樹脂與玻纖之間的附著力會出現劣化,導致玻纖表面的硅烷偶聯劑發生化學水解,從而在環氧樹脂與玻纖的界面上形成CAF泄露的通路。這種環境不僅促進了水分的吸附和擴散,還為離子的遷移提供了有利的條件。其次,電壓和偏壓也是CAF形成的關鍵因素。在兩個絕緣導體間存在電勢差時,陽極上的銅會被氧化為銅離子,這些離子在電場的作用下向陰極遷移,并在遷移過程中與板材中的雜質離子或OH-結合,生成不溶于水的導電鹽,逐漸沉積下來,導致兩絕緣導體間的電氣間距急劇下降,甚至直接導通形成短路。此外,PCB板材的材質和吸水率也會對CAF的形成產生影響。不同的板材材質和吸水率會導致其抵抗CAF的能力有所不同。例如,一些吸水率較高的板材更容易在潮濕環境中發生CAF故障。此外,環境中的污染物和化學物質也可能對CAF的形成產生影響。例如,電路板上的有機污染物可能會在高溫高濕環境中形成細小的導電通道,進一步促進CAF的形成。贛州導電陽極絲測試系統廠家直銷導電陽極絲測試系統短時間檢測 PCB 電阻變化,提高生產效率。

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隨著電子產品的功能日益強大,PCB電路設計師將面對的是越來越復雜的電路設計和不斷縮小的電子元件尺寸。設計師們需要處理大量的信號線、電源線和地線,確保它們之間的干擾盡可能小,同時滿足電氣性能和可靠性要求。還需要在更小的空間內布局更多的元件和電路,這要求設計師具備高超的布局和布線技術,以充分利用有限的板面空間。那如何才能早些知道設計的產品是否能夠滿足可靠性要求呢,答案就是充分運用導電陽極絲(CAF)測試的技術手段。

多通道絕緣電阻導電陽極絲測試系統的應用范圍很廣,主要涵蓋電子制造、通信、汽車電子和航空航天等行業。在電子制造領域,它用于評估印刷電路板的絕緣可靠性,預防電化學遷移(CAF)現象導致的短路風險。通信行業則是利用CAF測試設備確保基站設備在復雜環境條件下的穩定運行。汽車電子行業中,CAF測試設備對于汽車電路板和電池管理系統的安全性能評估至關重要。而在航空航天領域,它則用于評估航空電子設備在極端條件下的可靠性。這些應用均體現了CAF測試設備在保障電子產品及其組件可靠性方面的重要作用。AUTO CAF 測試系統采用先進設計理念與技術,確保系統的前沿性與競爭力。

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CAF測試是通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生,并記錄電阻值變化狀況。其目的是評估PCB在極端環境條件下的性能和可靠性,特別是針對離子遷移與CAF現象。長時間測試中的穩定性問題有哪些挑戰因素呢。首先是環境條件:CAF測試通常在高溫高濕的環境中進行,如85℃、85%RH。這種極端條件對測試設備的穩定性和可靠性提出了極高要求。長時間運行在這樣的環境中,可能導致測試設備出現性能下降、誤差增大等問題。其次是電壓穩定性:CAF測試需要施加恒定的直流電壓,電壓的波動可能直接影響測試結果。長時間測試中,電壓源的穩定性尤為重要,需要確保在整個測試過程中電壓值保持恒定。電阻值監測也是一項重大挑戰:在測試過程中,需要實時監測電阻值的變化。長時間的測試可能導致電阻值監測設備出現漂移、噪聲干擾等問題,從而影響測試結果的準確性。此外,還有因設備故障、數據記錄與分析、以及其他人為影響因素帶來的可靠性問題也會對測試結果產生比較大的影響。導電陽極絲測試系統具備自動校準功能,提升測試效率。贛州導電陽極絲測試系統廠家直銷

借助 PCB 阻抗可靠性測試系統,優化產品設計增強競爭力。國磊PCB測試系統工藝

CAF測試設備具有技術密集型特征。包括了軟件設計:CAF測試設備通常配備簡單明了的軟件設計,能夠非常直觀地操作,并具備過程中的記錄、報告相關的報表功能。高性能:每個通道都單獨配有電壓/計測電路,可以實現高達16ms的計測間隔,提高了遷移現象的檢測能力,對產品品質把控更為精確。同時,一臺電腦允許增設400通道,滿足大規模測試需求。高信賴性:試驗條件和數據可以存儲到CF存儲卡里,相比PC和HDD,CF存儲卡具有更高的信賴性。此外,系統還配備UPS作為備份,確保在瞬間停電或設定時間內的停電情況下,試驗仍能繼續進行。高便利性:CAF測試設備的主構成組合(CPU/計測/電源)采用slot-in構造,方便進行保養和更換。主機體積小巧,便于放置和移動。靈活的系統構成:用戶可以根據需求選擇不同通道數的系統構成,并可方便地增加Channel數。使用一臺PC理論上可以同時操作系統400CH,還支持ECM-100/100和ECM-100/40的同時操作。國磊PCB測試系統工藝

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